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  • 產品名稱：天星ED400渦流測厚儀

  • 產品型號：ED400
  • 產品廠商：其它品牌
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簡單介紹：
天星ED400渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型，儀器性能顯著提高。天星ED400渦流測厚儀主要用於測量鋁合金型材表麵的陽極氧化膜或塗層厚度，還可用於測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表麵的陽極氧化膜或塗層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
詳情介紹：
天星ED400渦流測厚儀
技術參數
  測量範圍：   0～500 μm
  測量精度：   0～50 μm：±1 μm；

  50～500 μm：±2%
  分辨率：   0～50 μm：0.1 μm；

  50～500 μm：1 μm；

  0～500 μm：1 μm（可選）
  使用溫度：   5～45℃
  外形尺寸：   150 mm×80 mm×30 mm
  重量：   280 g

 標準配置：儀器主機（含探頭），校準基體，校準片，說明書，保修卡，合格證，儀器箱，第三方計量證書（校準片）。