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涂层测厚仪中的电磁干扰
日期：2024-04-26 21:40
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摘要：
涂层测厚仪中的电磁干扰
EN61000标准在电磁兼容（EMC）中定义了电子设备在电磁干扰环境下的产品**和性能，以及对外部电磁干扰的抗干扰性。对**电子设备而言，该标准指的是高频率的电磁扰动（如超短波，无线移动，电视），而涂层测厚仪一般受低频扰动影响。EN61000标准并没有考虑低频扰动，因此低频波的发射没有得到测试。
传统测厚仪传输模拟测量信号到主机，通常达到约0.02V的电压水平。而SIDSP系统在电缆的信号水平达到4V。由于信号强度大幅增加了200倍，数字信号比模拟信号的抗干扰性更好。模拟信号是连续的波形包含了整个测量信息。而数字信号*用电压水平的0V或4V代表数字的0或1.
使用数字信号很容易分清这两种状态。数字信号即使波动50%的水平也不会损失任何信息。例如，某个测量任务要求测量信号波动水平不超过1%，模拟信号在电缆中的误差极限则达到0.0002V。而典型的4V数字型号允许高达2V的误差，远远高于1%的误差极限。
目前德国EPK全系列涂层测厚仪已经使用SIDSP技术（即数字探头）。