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影响涂层测厚仪测量值精度的各种因素
日期：2024-04-23 10:56
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摘要：
1、基质金属磁特性
磁法厚度受基体金属磁性变化(在实践中,这一变化的低碳钢磁可以被认为是一个轻微的),为了避免影响热处理、冷加工的因素,应使用金属试样基体具有相同性质的标准的涂层厚度量测仪校准;
也可以用于涂层试件校准。
2、基本金属的厚度
每一种仪器有一个临界厚度的贱金属。
大于厚度量测不受厚度的贱金属。
3、贱金属电气性能
对…有影响的导电性基体金属和贱金属的电导率有关,其材料组成和热处理。
使用金属试样基体具有相同性质的标准仪器校准。
4、边缘效应,
涂层测厚仪灵敏度的陡变的标本的表层形状。
所以靠近试样在边缘或角落措施是不可靠的。
5、曲率
标本的曲率影响量测。
这种影响是一直增加的曲率半径减少明显。
因此,在量测弯曲试样表层是不可靠的。
6、变形的试样
量测头可以使软涂层试样变形,因此一个可靠的数据对这些标本量测。
7、表层粗糙度
基质金属和表层粗糙度量测的涂层。
粗糙度的增加,增加的影响。
粗糙表层会引起系统误差和随机误差,每次量测,应该增加数量的量测在不同的位置,克服随机误差。
如果矩阵金属粗糙,还必须相似矩阵没有涂层粗糙的金属样品需要几个零位校准的涂层测厚仪;
或者没有腐蚀到金属基体溶液去除盖,然后检查了零。
8、磁场
在各种强烈的磁场所产生的电气设备,会严重干扰磁性测厚的方法。
9、胶粘材料
仪器的量测头的阻塞密切接触涂层表层粘附材料的敏感,因此,必须转移到材料,确保仪器量测头和被直接接触表层的测试。
10、量测头的压力
压力强加的探针在样品尺寸会影响量测的读数,因此,保持压力恒定。
11、量测头取向
的放置探针方法量测有影响。
在量测中,应保持探针和样品表层垂直。
磁法厚度受基体金属磁性变化(在实践中,这一变化的低碳钢磁可以被认为是一个轻微的),为了避免影响热处理、冷加工的因素,应使用金属试样基体具有相同性质的标准的涂层厚度量测仪校准;
也可以用于涂层试件校准。
2、基本金属的厚度
每一种仪器有一个临界厚度的贱金属。
大于厚度量测不受厚度的贱金属。
3、贱金属电气性能
对…有影响的导电性基体金属和贱金属的电导率有关,其材料组成和热处理。
使用金属试样基体具有相同性质的标准仪器校准。
4、边缘效应,
涂层测厚仪灵敏度的陡变的标本的表层形状。
所以靠近试样在边缘或角落措施是不可靠的。
5、曲率
标本的曲率影响量测。
这种影响是一直增加的曲率半径减少明显。
因此,在量测弯曲试样表层是不可靠的。
6、变形的试样
量测头可以使软涂层试样变形,因此一个可靠的数据对这些标本量测。
7、表层粗糙度
基质金属和表层粗糙度量测的涂层。
粗糙度的增加,增加的影响。
粗糙表层会引起系统误差和随机误差,每次量测,应该增加数量的量测在不同的位置,克服随机误差。
如果矩阵金属粗糙,还必须相似矩阵没有涂层粗糙的金属样品需要几个零位校准的涂层测厚仪;
或者没有腐蚀到金属基体溶液去除盖,然后检查了零。
8、磁场
在各种强烈的磁场所产生的电气设备,会严重干扰磁性测厚的方法。
9、胶粘材料
仪器的量测头的阻塞密切接触涂层表层粘附材料的敏感,因此,必须转移到材料,确保仪器量测头和被直接接触表层的测试。
10、量测头的压力
压力强加的探针在样品尺寸会影响量测的读数,因此,保持压力恒定。
11、量测头取向
的放置探针方法量测有影响。
在量测中,应保持探针和样品表层垂直。