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  • 产品名称：膜厚仪

  • 产品型号：TT230
  • 产品厂商：北京时代
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简单介绍：
TT230膜厚仪采用电涡流测厚法，可以测量非磁性金属基体上非导电层的厚度，可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，*适用于工程现场测量。
详情介绍：
TT230膜厚仪采用电涡流测厚法，可以测量非磁性金属基体上非导电层的厚度，可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，*适用于工程现场测量。

主要功能
 可进行零点校准及二点校准。
 可对测头进行基本校准。
 设有五个统计量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）。可存贮和统计计算15个测量值。
 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。
 自动关机功能。
 删除功能：对测量中出现的单次数据进行删除，也可删除存贮区内的**数据，以便进行新的测量。
 操作过程有蜂鸣声提示。
 有欠压指示功能。
 有错误提示功能。

主要技术指标
测量原理：涡流法
 测量范围：1～1250μm
 测量精度：±（3%H+1.5）μm（零点校准）
 ±[(1～3)%H+1.5] μm（二点校准）